Electron beam induced current microscopy investigation of GaN nanowire arrays grown on Si substrates
Vladimir Neplokh
(1)
,
Ahmed Ali
(2)
,
François H. Julien
(1)
,
Martin Foldyna
(3)
,
Ivan Mukhin
,
George Cirlin
(4)
,
Jean-Christophe Harmand
(5)
,
Noëlle Gogneau
(6)
,
Maria Tchernycheva
(1)
1
IEF -
Institut d'électronique fondamentale
2 UCL School of Pharmacy
3 LPICM - Laboratoire de physique des interfaces et des couches minces [Palaiseau]
4 A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
5 LBE - Laboratoire de Biotechnologie de l'Environnement [Narbonne]
6 LPN - Laboratoire de photonique et de nanostructures
2 UCL School of Pharmacy
3 LPICM - Laboratoire de physique des interfaces et des couches minces [Palaiseau]
4 A.F. Ioffe Physical-Technical Institute
5 LBE - Laboratoire de Biotechnologie de l'Environnement [Narbonne]
6 LPN - Laboratoire de photonique et de nanostructures
Martin Foldyna
- Function : Author
- PersonId : 170007
- IdHAL : martin-foldyna
- ORCID : 0000-0001-8413-0504
- IdRef : 193053888
Ivan Mukhin
- Function : Author
Jean-Christophe Harmand
- Function : Author
- PersonId : 742090
- IdHAL : jean-christophe-harmand
- ORCID : 0000-0003-0758-0389
- IdRef : 033848173
Noëlle Gogneau
- Function : Author
- PersonId : 180106
- IdHAL : noelle-gogneau
- ORCID : 0000-0002-4881-1617
- IdRef : 084148020
Maria Tchernycheva
- Function : Author
- PersonId : 763095
- ORCID : 0000-0003-4144-0793
- IdRef : 092598447